JIS Z8739:2001 音響−音響パワーレベル算出に 使用される基準音源の性能及び 校正に対する要求事項 Acoustics−Requirements for the performance and calibration of reference sound sources used for the determination of sound power levels
1. 適用範囲 この規格は，基準音源についての次の音響性能の要求事項を規定する。
− 音響パワー出力の時間定常性及び繰返し性
− スペクトル特性 − 指向性指数 音響パワー出力の安定性及び指向性が必要とされる音源の指向性指数は，通常は基準音源の適合性試験に付随して算出される。指向性測定のために（例外については5.5参照），適合性試験は半無響環境に限って実行できる。定期的検証測定の場合に，通常，周波数バンドの音響パワーレベルだけを測定する。この場合に測定は半無響又は残響条件で実施してよい。また，この規格は，オクターブバンド及び1/3オクターブバンドでかつ周波数重み付けAで，空気の特性インピーダンス(爀  一一洀㌰死地慎における音響パワーレベルで表すための基準音源として使用するための音源の校正手順を規定する。適合性試験及び検証のために様々な手順を規定する。
備考 基準音源は，例えばISO 9295のように，1/2オクターブバンドでの測定のために使っても差し支えない。 しかし，そのような状況ではこの規格で規定される安定性と再現性の限界は適用されない。
この規格は，反射面上の自由音場だけでなく境界表面から種々の距離における残響室での基準音源の校正方法を規定する。反射面上の基準音源の位置について，上記二つの異なる試験環境は100Hz以上の周波数帯域では等価であるとみなされる。しかし，100Hz以下については，測定の不確かさは大きく異なる（表1参照）。
この規格は，基準音源として使用する音源に適用される。音源は，床面に直接に設置するか，又は床面上のある高さで使用するためにスタンドで据え付けてもよい。床面に設置される音源の場合には，この規格は，音源の最大垂直方向寸法が0.5m未満で，その最大水平方向寸法が0.8m未満の音源に限って有効である。この規格によれば，測定面上の測定を行う場合には床置き型基準音源だけを使用することができる。残響性の条件下で使用又は校正される基準音源については，こうした最大寸法についての制限はない。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD（修正している），NEQ（同等でない）とする。 ISO 6926 Acoustics−Requirements for the performance and calibration of reference sound sources used for the determination of sound power levels (IDT)
2. 引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS Z 8402-1 測定方法及び測定結果の精確さ（真度及び精度）−第1部：一般的な原理及び定義 備考 ISO 5725-1 : 1994, Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results−Part 1 : General principles and definitionsが，この規格と一致している。
JIS Z 8732 音響−音圧法による騒音源の音響パワーレベルの測定方法−無響室及び半無響室における精密測定方法 備考 ISO/DIS 3745 : 2000, Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources using sound pressure−Precision methods for anechoic and hemi-anechoic roomsが，この規格と一致している。
JIS Z 8733 音響−音圧法による騒音源の音響パワーレベルの測定方法−反射面上の準自由音場における実用測定方法
備考 ISO 3744 : 1994, Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources using sound pressure−Engineering method in an essentially free field over a reflecting planeが，この規格と一致している。
JIS Z 8734 音響−音圧法による騒音源の音響パワーレベルの測定方法−残響室における精密測定方法
3. 定義 この規格で用いられる主な用語の定義は，次による。
3.1 反射面上自由音場 (free field over a reflecting plane) 音源が置かれる無限剛表面上の半空間上における均質等方媒質の音場。
3.2 半無響室 (hemi-anechoic room) JIS Z 8732の要求事項を満たす反射平面（硬い床面）をもった試験室。
3.3 表面音圧レベル (surface sound pressure leve1) Lpf 測定表面上の全マイクロホン位置における時間平均音圧レベルのエネルギー平均（JIS Z 8733参照）。 備考 単位はデシベル。
3.4 音響パワーレベル (sound power leve1) Lw 基準音響パワー (l0-12 W) に対する供試音源から放射する音響パワーの比の常用対数の10倍。 備考 単位はデシベル。
3.5 測定表面 (measurement surface) 音圧レベルを測定するための音源を囲う仮想表面。 備考 この規格では，測定表面は反射面上の半球又は球である。
3.6 遠距離音場 (far field) 測定表面の面積が2倍となるごとにその音圧レベルが3dB減少するような音源の放射音場の部分。 備考 この減衰率は，点音源からの距離が2倍になるごとに6dB減少することに相当する。遠距離音場では二乗平均音圧は音源から放射された全音響パワーに比例する。
3.7 近距離音場 (near field) 音源と遠距離音場の間に存在する音源の放射音場の部分。